普通當(dāng)測(cè)試電流大于15毫安,測(cè)試波形具有重復(fù)性以及可以相堆疊,同時(shí)一個(gè)波形有一個(gè)發(fā)射、三個(gè)反射且脈沖幅度逐漸削弱時(shí),所測(cè)的距離為缺點(diǎn)點(diǎn)到電纜測(cè)試端的距離;否則為缺點(diǎn)點(diǎn)到電纜測(cè)試對(duì)端的距離,下面以缺點(diǎn)點(diǎn)電阻為依據(jù)簡(jiǎn)述一下測(cè)試方法：

(1)當(dāng)缺點(diǎn)點(diǎn)電阻等于無(wú)量大時(shí),用高壓脈沖法測(cè)量容易找到斷路缺點(diǎn),普通來(lái)說(shuō),地道性斷路缺點(diǎn)不罕見到,通常斷路缺點(diǎn)為相對(duì)地或相間高阻缺點(diǎn),及相對(duì)地或相間低阻缺點(diǎn)并存。

(2)當(dāng)缺點(diǎn)點(diǎn)電阻大于零小于100千歐時(shí),用高壓脈沖法測(cè)量容易找到低阻缺點(diǎn)。

(3)閃絡(luò)缺點(diǎn)可用直閃法測(cè)量,這種缺點(diǎn)普通存在于接頭外部,缺點(diǎn)點(diǎn)電阻大于100千歐,但數(shù)值變化較大,每次測(cè)量不確定。

(4)閃絡(luò)性缺點(diǎn)多發(fā)作于預(yù)防性耐壓實(shí)驗(yàn),發(fā)作部位大多在電纜終端和中直接頭。

(5)高阻缺點(diǎn)可用沖閃法測(cè)量,缺點(diǎn)點(diǎn)電阻大于100千歐且數(shù)值確定,這些設(shè)備可以使其測(cè)量誤差控制在幾十厘米以內(nèi),直接找到缺點(diǎn)點(diǎn)停止處置,提高了缺點(diǎn)測(cè)尋的效率,如現(xiàn)采用的發(fā)音頻信號(hào)給電纜,在缺點(diǎn)點(diǎn)接納信號(hào)的測(cè)試技術(shù),以及應(yīng)用CD-12-22電纜缺點(diǎn)測(cè)試儀對(duì)缺點(diǎn)點(diǎn)的準(zhǔn)確定位。

目前最為盛行的測(cè)試方法是閃測(cè)法,它包括沖閃和直閃,最常用的是沖閃法,電纜缺點(diǎn)測(cè)試技術(shù)水平的提高,應(yīng)針對(duì)不同的缺點(diǎn)性質(zhì)采取不同的方法,還要不時(shí)引進(jìn)新技術(shù)、新設(shè)備,同時(shí)也要在新設(shè)備上探索閱歷,開發(fā)新的功用。